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机译:用漫射X射线散射表征W / si多层膜的粗糙度相关性
T. Salditt; T. H. Metzger; J. Peisl;
机译:通过共面漫射X射线散射研究固态多层膜的界面粗糙度和粗糙度相关性
机译:Ni / C多层镜中X射线扩散散射法的粗糙度互相关研究
机译:透射电子显微镜和X射线扩散散射分析的溅射多层膜的粗糙度
机译:对应于x射线多层膜的Kiessig条纹的倒数空间中的扩散散射片
机译:基于偏光的折射率和表面粗糙度估计,考虑了遥感应用中的漫散射。
机译:将界面粗糙度纳入多层和超晶格的动态X射线衍射的递归矩阵形式中
机译:扩散x射线散射表征W / Si多层中的粗糙度相关性
机译:多层粗糙度相关性的无损分析
机译:使用X射线计算机断层扫描技术对深层岩心中的开闭岩石节进行表面粗糙度表征
机译:使用线性自适应电磁X射线扫描进行向后散射表征
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